產品(pin)名(ming)稱(cheng)：高(gao)溫導熱(re)系(xi)數(shu)測定儀

高(gao)溫導熱(re)系(xi)數(shu)測定儀，DRS-III是(shi)從DRS-2水(shui)流(liu)量(liang)平板法導熱(re)系(xi)數(shu)測試(shi)儀(yi)基(ji)礎上發(fa)展而成(cheng)的保溫材(cai)料(liao)高(gao)溫導熱(re)系(xi)數(shu)測試(shi)儀(yi)器。與(yu)DRS-2比(bi)較，提高(gao)了分辯(bian)率和自(zi)動(dong)化(hua)程(cheng)度，縮(suo)短了測試(shi)時(shi)間，維(wei)護更(geng)容(rong)易，儀(yi)器性能(neng)更(geng)可靠。本儀器適(shi)用於耐(nai)火(huo)保溫、陶瓷(ci)纖維、氈、紡織(zhi)物(wu)、板、磚(zhuan)等(deng)材料在不(bu)同(tong)溫度下導熱(re)系(xi)數(shu)的測試(shi)。廣(guang)泛應用在大(da)中院(yuan)校(xiao)，科(ke)研(yan)單位(wei)，質(zhi)檢部門(men)和生產廠(chang)的材料分析(xi)檢測。
高(gao)溫導熱(re)系(xi)數(shu)測定儀，DRS-III參(can)考標(biao)準：ASTM C518-04用熱(re)流(liu)計(ji)法測定穩態(tai)熱(re)通(tong)量(liang)和熱(re)傳遞特性的試(shi)驗方法；GB10295-2008絕熱(re)材(cai)料穩(wen)態熱(re)阻(zu)及有(you)關特(te)性(xing)的測定（熱(re)流(liu)計(ji)法）；YB/T 4130-2005耐(nai)火(huo)材(cai)料(liao) 導熱(re)系(xi)數(shu)試(shi)驗方法(水(shui)流(liu)量(liang)平板法)；GB/T 17911耐(nai)火(huo)陶瓷(ci)纖維制品(pin) 導熱(re)系(xi)數(shu)實(shi)驗方法等(deng)。
工作原理
高(gao)溫導熱(re)系(xi)數(shu)測定儀，DRS-III采(cai)用防(fang)護(hu)熱(re)流(liu)計(ji)法檢測保溫材(cai)料(liao)高(gao)溫下的導熱(re)系(xi)數(shu)。加熱(re)爐在高(gao)精度溫度控(kong)制器控(kong)制下加熱(re)熱(re)板(ban)，使熱(re)板(ban)溫度穩定，恒(heng)溫(wen)水(shui)槽(cao)提(ti)供穩定水(shui)溫(wen)給量(liang)熱(re)水(shui)槽(cao)，量(liang)熱(re)水(shui)槽(cao)出(chu)水(shui)連接(jie)護(hu)熱(re)水(shui)槽(cao)，作(zuo)護熱(re)冷(leng)卻(que)水(shui)。量(liang)熱(re)板(ban)與(yu)護(hu)熱(re)板(ban)組成(cheng)冷(leng)板(ban)。中心(xin)量(liang)熱(re)板(ban)中的熱(re)流(liu)計(ji)檢(jian)測流過(guo)試(shi)樣(yang)的熱(re)流(liu)，防(fang)護(hu)熱(re)板(ban)中的半導體制冷(leng)片在溫(wen)控(kong)器控(kong)制下，使護熱(re)板(ban)與(yu)量(liang)熱(re)板(ban)溫度相等(deng)，保證量(liang)熱(re)板(ban)面(mian)積(ji)下(xia)的熱(re)流(liu)成(cheng)壹維熱(re)流(liu)。熱(re)面(mian)熱(re)電(dian)偶和冷(leng)面(mian)熱(re)電(dian)偶分別測量(liang)試(shi)樣(yang)的熱(re)面(mian)和冷(leng)面(mian)溫(wen)度。
技術參(can)數(shu)
1.導熱(re)系(xi)數(shu)測試(shi)範(fan)圍：0.010～2w/mk
2.導熱(re)系(xi)數(shu)測試(shi)精(jing)度：±3％
3.試(shi)樣(yang)尺寸：230×230～250×250（mm）；厚(hou)度20～100（mm）
4.熱(re)面(mian)*高(gao)溫度：1200℃
5.電源(yuan)：電壓(ya)220V；頻(pin)率50Hz；功(gong)率≤4KW
6.可實(shi)現多(duo)層試(shi)樣(yang)同時(shi)測試(shi)